ultraviolet-visible spectrophotometry中文是什么意思

• 紫外-可见分光光度法

• "ultraviolet"中文翻译    adj. 【物理学】紫外的；紫外线的；产生[应用]紫外线 ...
• "visible"中文翻译    adj. 1.可见的，看得见的，肉眼能见的。 2.显著的 ...
• "visible spectrophotometry" 中文翻译 :    可见光分光光度法
• "ultraviolet spectrophotometry" 中文翻译 :    紫外分光光度测定法; 紫外分光光度法; 紫外线分光光度测定法; 紫外线光谱测定法
• "visible absorption spectrophotometry" 中文翻译 :    可见吸收分光光度学
• "ultraviolet absorption spectrophotometry" 中文翻译 :    紫外吸收分光光度学
• "monochromator in visible and ultraviolet" 中文翻译 :    可见光区与紫外区单色仪
• "ultraviolet and visible detector" 中文翻译 :    紫外光及可见光检测器
• "ultraviolet and visible light detector" 中文翻译 :    紫外及可见光侦检器
• "ultraviolet visible detector" 中文翻译 :    紫外光可见光检测器; 紫外可见光检测器
• "ultraviolet-visible colorimeter monitor" 中文翻译 :    紫外
• "ultraviolet-visible colorimetric monitor" 中文翻译 :    紫外-可见光比色监测器
• "ultraviolet-visible detector" 中文翻译 :    紫外可见光检测器
• "ultraviolet-visible ectrophotometer" 中文翻译 :    紫外
• "ultraviolet-visible effluent monitor" 中文翻译 :    紫外-可见光流出物监测器
• "ultraviolet-visible light detector" 中文翻译 :    紫外-可见光检测器
• "ultraviolet-visible liner polarizer" 中文翻译 :    紫外线可见光直线偏振镜
• "ultraviolet-visible pectrophotometer" 中文翻译 :    紫外可见分光光度计
• "ultraviolet-visible spectrometer" 中文翻译 :    紫外和可见光分光光度计
• "ultraviolet-visible spectrophotometer" 中文翻译 :    紫外
• "ultraviolet-visible spectroscopy" 中文翻译 :    紫外光谱
• "visible and ultraviolet region" 中文翻译 :    可见光区及紫外区
• "visible ultraviolet spectrophotometer" 中文翻译 :    可见紫外分光光度计
• "ultraviolet visible detector, uv-vis" 中文翻译 :    可见光检测器
• "spectrophotometry" 中文翻译 :    分光测光学 分光光度测定法 分光光度测量 分光光度术; 分光光度法; 分光光度计检测法; 分光光度学; 分光技术; 光谱测定法; 光谱分析原理

• Distinguishing hogwash oil from peanut oil by ultraviolet - visible spectrophotometry
  紫外可见分光光度法鉴别掺兑潲水油的花生油
• For xrd , ellipsometry examinations , single - side - polished si ( lll ) wafers were used as substrates and for resistance measurement , glass was used and for infrared examination , double - side - polished si ( lll ) wafers were used and for ultraviolet - visible spectrophotometry , double - side - polished quartz wafers were used and for tem micrograph and electron diffraction pattern observation , cu nets deposited by formvar film were used . the cu - mgf2 cermet films were from 50 to 600nm thick
  用于xrd分析、椭偏测量的单抛si ( 111 )晶片和电阻测试的载玻片上淀积膜厚约为600nm ；用于ir测试的双抛si ( 111 )晶片和uv测试的石英玻璃片上淀积膜厚约为250nm ；用于透射电镜分析的样品则淀积在400目铜网上的支撑formvar膜上，膜厚约为50 100nm 。